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发明名称 IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH10142293(A) 申请公布日期 1998.05.29
申请号 JP19960300486 申请日期 1996.11.12
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 ONISHI TAKESHI;YATSUDA MINORU;SUZUKI KATSUHIKO
分类号 G01R31/26;G01R31/01;G01R31/28;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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