基于线性反馈移位寄存器的集成电路准单跳变测试向量生成器

摘要

本实用新型涉及一种准单跳变测试向量生成器,公开了一种基于线性反馈移位寄存器的准单跳测试向量生成器。它包括被测电路（6），线性反馈移位寄存器（1）与两输入与门（4）和寄存器（2）电连接，并且与两输入异或门（3）电连接；两输入与门（4）与触发器（5）电连接，两输入异或门（3）与被测电路（6）电连接。本实用新型由于该测试序列生成器产生的准单跳变测试向量具有很高的相关性，可以大大降低被测集成电路内部开关翻转活动率（WSA），实现对器件的低功耗测试，特别适用于超大规模集成电路（VLSI）和系统芯片(SoC)的内建自测试。

主权项

基于线性反馈移位寄存器的集成电路低功耗准单跳变测试向量生成器，包括被测电路（6），其特征在于：线性反馈移位寄存器（1）与两输入与门（4）和寄存器（2）电连接，并且与两输入异或门（3）电连接；两输入与门（4）与触发器（5）电连接，两输入异或门（3）与被测电路（6）电连接。