| 主权项 |
一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体，是使用于：相对于形成为预定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的预定尺寸的光学功能薄膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置，其特征为：至少包含有：由根据事先检查所检测的缺陷的位置而相对于长轴方向的直角方向区分，具有与液晶面板的尺寸对应的预定长度且不含有缺陷的区域、以及隔着该缺陷的位置，具有与不含有缺陷的区域不同的预定长度的含有缺陷的区域所构成，包含黏着层的光学功能薄膜；以及可自由剥离地层叠于该黏着层的载体薄膜，藉由在连续带状形态的光学薄膜层叠体，沿着该光学薄膜层叠体的宽度方向，对应于光学功能薄膜上述各区域，从与载体薄膜相反侧，进行切割直达载体薄膜的黏着层侧的面部的深度，依序形成切割线，在连续制造液晶显示元件的上述装置中使用作为连续卷体，而从该连续卷体送出时，在载体薄膜上以可识别的方式依序形成：光学功能薄膜的不含有缺陷的正常薄片、以及含有缺陷的不良薄片。如申请专利范围第1项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体，其中，光学功能薄膜至少具有偏光特性。如申请专利范围第1或2项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体，其中，具有液晶面板宽度的连续带状形态的光学薄膜层叠体，又包含有：可自由剥离地层叠于光学功能薄膜的非黏着层侧的面的表面保护薄膜。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，是使用于：相对于形成为预定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的预定尺寸的光学功能薄膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置，其特征为：分别包含有下述步骤：(a)藉由在连续带状形态的偏光片的其中至少一面层叠连续带状形态的保护薄膜，生成光学功能薄膜，(b)藉由检查上述光学功能薄膜的表面及内部，来检测该光学功能薄膜内存在的缺陷，(c)在根据所检测的光学功能薄膜的缺陷的位置而相对于长轴方向的直角方向区分，对应于液晶面板的尺寸的具有预定长度的不含缺陷的区域、与隔着该缺陷的位置且与不含缺陷的区域具有不同的预定长度的含有缺陷的区域所构成的连续带状形态的光学功能薄膜，隔着黏着层，藉由可自由剥离地层叠着连续带状形态的载体薄膜，而生成连续带状形态的光学薄膜层叠体，(d)在连续带状形态的光学薄膜层叠体，沿着该光学薄膜层叠体的宽度方向，从与载体薄膜相反侧，对应光学功能薄膜的上述各区域切割直达载体薄膜的黏着层侧的面部的深度，依序形成切割线，在连续制造液晶显示元件的上述装置中使用作为连续卷体，而从该连续卷体送出时，在载体薄膜上以可识别的方式依序形成：光学功能薄膜的不含缺陷的正常薄片、与含有缺陷的不良薄片，藉此，生成连续带状形态的附带切割线的光学薄膜层叠体，(e)对于将所生成的连续带状形态的附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕的连续卷体进行加工。如申请专利范围第4项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，将连续带状形态的光学薄膜层叠体产生的步骤，又包含有：在光学功能薄膜的非黏着层侧的面，可自由剥离地层叠表面保护薄膜的步骤。如申请专利范围第4或5项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，用来检测光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤，包含有下述步骤的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的步骤、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为影子而检测出的步骤、及将光学功能薄膜与偏光滤光片，将该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的步骤。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，是使用于：相对于形成为预定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的预定尺寸的光学功能薄膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置，其特征为：分别包含有下述步骤：(a)准备连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的连续卷体，该拟光学薄膜层叠体的连续卷体，至少包含：由连续带状形态的偏光片、层叠于该偏光片的其中至少一面的保护薄膜、及形成于一个面的黏着层所构成的连续带状形态的光学功能薄膜；以及可自由剥离地层叠于该黏着层的连续带状形态的拟载体薄膜，(b)一边从所准备的连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的连续卷体送出拟光学薄膜层叠体，一边藉由从该拟光学薄膜层叠体将拟载体薄膜剥离，使包含黏着层的光学功能薄膜露出，(c)藉由检查露出的包含黏着层的光学功能薄膜的表面及内部，来检测包含黏着层的该光学功能薄膜内存在的缺陷，(d)在根据所检测包含黏着层的光学功能薄膜的缺陷的位置而相对于长轴方向的直角方向区分对应于液晶面板的尺寸的具有预定长度的不含缺陷的区域、与隔着该缺陷的位置且与不含缺陷的区域具有不同的预定长度的含有缺陷的区域，所构成的包含黏着层的光学功能薄膜的该黏着层，可自由剥离地层叠着载体薄膜，而生成连续带状形态的光学薄膜层叠体，(e)在连续带状形态的光学薄膜层叠体，沿着该光学薄膜层叠体的宽度方向，从与载体薄膜相反侧，对应光学功能薄膜的上述各区域切割直达载体薄膜的黏着层侧的面的深度，依序形成切割线，在连续制造液晶显示元件的上述装置中使用作为连续卷体，而从该连续卷体送出时，在载体薄膜上以可识别的方式依序形成：光学功能薄膜的不含缺陷的正常薄片、与含有缺陷的不良薄片，藉此生成连续带状形态的附带切割线的光学薄膜层叠体，(f)对于将所生成的连续带状形态的附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕的连续卷体进行加工。如申请专利范围第7项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，拟载体薄膜，在其中一面具有：在脱模处理后藉由将含有黏着剂的溶剂进行涂布乾燥所形成的可转印的黏着层。如申请专利范围第7项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，载体薄膜，在其层叠于光学功能薄膜所露出的黏着层的面，实施脱模处理。如申请专利范围第8项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，载体薄膜，在其层叠于光学功能薄膜所露出的黏着层的面，实施脱模处理。如申请专利范围第7至10项中任一项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，将连续带状形态的光学薄膜层叠体生成的步骤，又包含有：在光学功能薄膜的非黏着层侧的面，可自由剥离地层叠表面保护薄膜的步骤。如申请专利范围第7至10项中任一项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，用来检测光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤，又包含有下述步骤的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的步骤、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的步骤、将光学功能薄膜与偏光滤光片，使该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出。如申请专利范围第11项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造方法，其中，用来检测光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤，又包含有下述步骤的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的步骤、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的步骤、将光学功能薄膜与偏光滤光片，使该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的装置，使用于：相对于形成预定尺寸的液晶面板，将形成与该液晶面板的尺寸对应的预定尺寸的光学功能薄膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置，其特征为：包含有：(a)将连续带状形态的保护薄膜层叠于连续带状形态的偏光片的其中至少一面，来生成光学功能薄膜的光学功能薄膜生成装置、(b)藉由检查光学功能薄膜的表面及内部，来检测光学功能薄膜内存在的缺陷的检查装置、(c)根据所检测的光学功能薄膜的缺陷的位置而相对于长轴方向的直角方向区分对应于液晶面板的尺寸的具有预定长度的不含缺陷的区域、与隔着该缺陷的位置且与不含缺陷的区域具有不同的预定长度的含有缺陷的区域，所构成的光学功能薄膜，隔着黏着层，可自由剥离地层叠着载体薄膜，而生成连续带状形态的光学薄膜层叠体的光学薄膜层叠体生成装置、(d)在连续带状形态的光学薄膜层叠体，沿着该光学薄膜层叠体的宽度方向，从与载体薄膜相反侧，对应光学功能薄膜的上述各区域切割直达载体薄膜的黏着层侧的面的深度，依序形成切割线，在连续制造液晶显示元件的上述装置中使用作为连续卷体，而从该连续卷体送出时，在载体薄膜上以可识别的方式依序形成：光学功能薄膜的不含缺陷的正常薄片、与含有缺陷的不良薄片，藉此，生成连续带状形态的附带切割线的光学薄膜层叠体的附带切割线光学薄膜层叠体生成装置、(e)对于将所生成的连续带状形态的附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕的连续卷体进行加工的卷绕装置、(f)至少将光学功能薄膜生成装置、检查装置、光学薄膜层叠体生成装置、附带切割线光学薄膜层叠体生成装置及卷绕装置分别连动，使其作动的控制装置。如申请专利范围第14项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，光学薄膜层叠体生成装置，又包含有：在光学功能薄膜的非黏着层侧的面，可自由剥离地层叠表面保护薄膜的表面保护薄膜层叠装置。如申请专利范围第14项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的第1检查装置、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的第2检查装置、使用偏光滤光片，将从光源照射的光正交偏光穿透，藉此让光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的第3检查装置。如申请专利范围第15项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的第1检查装置、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的第2检查装置、使用偏光滤光片，将从光源照射的光正交偏光穿透，藉此让光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的第3检查装置。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，使用于：相对于形成为预定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的预定尺寸的光学功能薄膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置，其特征为：包含有：(a)拟光学薄膜层叠体至少包含：由连续带状形态的偏光片、层叠于该偏光片的其中至少一面的保护薄膜、及形成于一个面的黏着层所构成的光学功能薄膜；以及可自由剥离地层叠于该黏着层的的拟载体薄膜，从装备有该连续带状形态的拟光学薄膜层叠体之连续卷体的该连续卷体送出连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的拟光学薄膜层叠体供给装置、(b)藉由从所送出连续带状形态的拟光学薄膜层叠体将拟载体薄膜剥离，使包含黏着层的光学功能薄膜露出的拟载体薄膜剥离装置、(c)藉由检查露出的包含黏着层的光学功能薄膜的表面及内部，来检测包含黏着层的光学功能薄膜内存在的缺陷的检查装置、(d)在根据所检测包含黏着层的光学功能薄膜的缺陷的位置而相对于长轴方向的直角方向区分对应于液晶面板的尺寸的具有预定长度的不含缺陷的区域、及隔着该缺陷的位置且与不含缺陷的区域具有不同的预定长度的含有缺陷的区域，所构成的包含黏着层的光学功能薄膜的该黏着层，可自由剥离地层叠着载体薄膜，而生成连续带状形态的光学薄膜层叠体的光学薄膜层叠体生成装置、(e)在连续带状形态的光学薄膜层叠体，沿着该光学薄膜层叠体的宽度方向，从与载体薄膜相反侧，对应光学功能薄膜的上述各区域切割直达载体薄膜的黏着层侧的面的深度，依序形成切割线，在连续制造液晶显示元件的上述装置中使用作为连续卷体，而从该连续卷体送出时，则在载体薄膜上以可识别的方式依序形成：光学功能薄膜的不含缺陷的正常薄片、与含有缺陷的不良薄片，藉此，生成连续带状形态的附带切割线的光学薄膜层叠体的附带切割线光学薄膜层叠体生成装置、(f)对于将所生成的连续带状形态的附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕的连续卷体进行加工的卷绕装置、(g)至少将拟光学功能薄膜层叠体供给装置、拟载体薄膜剥离装置、检查装置、光学薄膜层叠体生成装置、附带切割线的光学薄膜层叠体生成装置及卷绕装置分别连动，使其作动的控制装置。如申请专利范围第18项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，拟载体薄膜，在其中一面具有：在脱模处理后藉由将含有黏着剂的溶剂进行涂布乾燥所形成的可转印的黏着层。如申请专利范围第18项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，载体薄膜，在其层叠于光学功能薄膜所露出的黏着层的面实施脱模处理。如申请专利范围第19项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，载体薄膜，在其层叠于光学功能薄膜所露出的黏着层的面实施脱模处理。如申请专利范围第18至20项中任一项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，光学薄膜层叠体生成装置，又包含有：在光学功能薄膜的非黏着层侧的面，可自由剥离地层叠表面保护薄膜的表面保护薄膜层叠装置。如申请专利范围第21项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，光学薄膜层叠体生成装置，又包含有：在光学功能薄膜的非黏着层侧的面，可自由剥离地层叠表面保护薄膜的表面保护薄膜层叠装置。如申请专利范围第18至21项中任一项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的第1检查装置、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的第2检查装置、将光学功能薄膜与偏光滤光片，将该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的第3检查装置。如申请专利范围第22项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的第1检查装置、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的第2检查装置、将光学功能薄膜与偏光滤光片，将该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的第3检查装置。如申请专利范围第23项的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体的连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或该等组合：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜的表面的第1检查装置、使光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为而检测出的第2检查装置、将光学功能薄膜与偏光滤光片，将该等吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，将光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来检测出的第3检查装置。 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