发明名称 应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复方法及其系统
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.02.01
申请号 TW096149151 申请日期 2007.12.21
申请人 国立清华大学 发明人 萧裕颖;吴诚文
分类号 G11C29/12 主分类号 G11C29/12
代理机构 代理人 冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复系统,包含:一内建式自我测试电路,用以测试一反及闸快闪记忆体之损坏资料;一内建式多余分析电路,连接至该内建式自我测试电路;一内容可定址式记忆体,连接至该内建式多余分析电路,用以储存该反及闸快闪记忆体之损坏资料之位址;一备用记忆体,电气连接至该内容可定址式记忆体;一页面模式处理器,其根据该反及闸快闪记忆体之位址讯号产生一页面位址讯号和一补偿讯号;以及一位址产生器,其根据该页面位址讯号和该补偿讯号产生一目前位址讯号给该内容可定址式记忆体。根据请求项1之内建式自我修复系统,其进一步包含一测试切换器,该测试切换器连接该内建式自我测试电路及该位址产生器,用于切换一测试模式和一般模式。根据请求项1之内建式自我修复系统,其中该备用记忆体包含备用行和备用反及闸区块。根据请求项1之内建式自我修复系统,其中当该目前位址讯号相等于该内容可定址式记忆体之一内容时,该内容可定址式记忆体输出一命中讯号。一种应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复方法,包含下列步骤:测试一反及闸快闪记忆体;若测试后发现之损坏资料为重复出现于同一行,则标记该损坏行;若测试后发现之损坏资料为重复出现于同一反及闸区块,则标记该损坏反及闸区块;若有一标记之损坏行,则以一备用行修复该损坏行;以及若有一标记之损坏反及闸区块,则以一备用反及闸区块修复该损坏反及闸区块。根据请求项5之内建式自我修复方法,其另包含下列步骤:若没有任何标记之损坏反及闸区块和损坏行且仍有可用之备用行,则以一第二备用行修复该损坏资料;及若没有任何标记之损坏反及闸区块和损坏行且已没有可用之备用行,则以一第二备用反及闸区块修复该损坏资料。根据请求项5之内建式自我修复方法,其另包含下列步骤:若已没有可用之备用行和备用反及闸区块时,则显示无法修复。根据请求项5之内建式自我修复方法,其另包含以一内容可定址式记忆体储存该损坏资料之反及闸区块位址和行位址。根据请求项8之内建式自我修复方法,其中另包含下列步骤:若该内容可定址式记忆体已没有可用之空间,则显示无法修复。根据请求项8之内建式自我修复方法,其中该内容可定址式记忆体所储存之格式包含备用记忆体之种类、备用记忆体之识别码、损坏单元之反及闸区块位址及损坏单元之行位址。根据请求项10之内建式自我修复方法,其中该内容可定址式记忆体所储存之格式更包含损坏单元之位元位址和有效性。一种应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复方法,包含下列步骤:测试一反及闸快闪记忆体;收集测试后发现之损坏资料;以一内容可定址式记忆体储存该损坏资料之反及闸区块位址和行位址;利用备用行修复该损坏资料;以及利用备用反及闸区块修复该损坏资料。根据请求项12之内建式自我修复方法,其中当该损坏资料重复出现于同一反及闸区块,则选择以该备用反及闸区块进行修复。根据请求项12之内建式自我修复方法,其中当该损坏资料并未重复出现于同一反及闸区块,但出现于同一行,则选择以该备用行进行修复。根据请求项12之内建式自我修复方法,其中当该损坏资料并未重复出现于同一反及闸区块和同一行,则选择以该备用行进行修复。根据请求项12之内建式自我修复方法,另包含下列步骤:若已没有可用之备用行和备用反及闸区块时,则显示无法修复。根据请求项12之内建式自我修复方法,另包含下列步骤:若该内容可定址式记忆体已没有可用之空间,则显示无法修复。根据请求项12之内建式自我修复方法,其中该内容可定址式记忆体所储存之格式包含备用记忆体之种类、备用记忆体之识别码、损坏单元之反及闸区块位址及损坏单元之行位址。根据请求项18之内建式自我修复方法,其中该内容可定址式记忆体所储存之格式更包含损坏单元之位元位址和有效性。
地址 新竹市光复路2段101号