| 主权项 |
1.一种IC测试用检验盘,其系备有基板单元和DUT单元,且介在于被测试器件(16)与插销卡(3)之间,用于连接IC测试器及自动处理机,其特征为具有:上述基板单元(21)具有:与安装有插销卡(3)的第五插接件(23)相嵌合的第六插接件(24);装设有第六插接件(24),且按每一第六插接件(24)都被分离的基板(25);及两端具有第七插接件(26)及第八插接件(28),而第七插接件(26)由与被装在上述基板(25)的第六插接件(24)相嵌合的连接对象可变更的导线(27)所构成、上述DUT单元(22)系装有与导线(27)的第八插接件(28)相嵌合的第九插接件(29),且与具有IC插座(15)的插座卡(14)所构成。2.如申请专利范围第1项之IC测试用检验盘,其中藉可将上述导线(27)的第七插接件(26)换插到插入于各基板(25)的底罩(26b)的插接罩(26a),就可变更连接对象者。图式简单说明:第一图(A)、(B)为本发明之构成图。第二图为表示本发明之实施例斜视图。第三图为自第二图(III)方向所看的剖面图。第四图(A)、(B)为习知技术之构成例。第五图为习知技术之构成例。第六图为自第五图(VI)方向所看的剖面图。 |
