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<p>Procédé d'estimation d'un défaut d'un système de capture d'images (1), produisant, vis-à-vis d'une première image (I) quelconque représentant une scène (S) quelconque, une variation dans le champ d'une caractéristique de la première image, d'un ordre de grandeur statistiquement plus faible qu'une variation dans le champ de ladite caractéristique introduite par la scène. Selon ce procédé : on calcule, dans une première partie au moins du champ de la première image, une mesure (µ(l)) relative à ladite caractéristique de la première image ; et on obtient, dans une deuxième partie au moins du champ de la première image, une grandeur (v) estimative dudit défaut, dépendant de la mesure calculée et ayant une variation du même ordre de grandeur que la variation dans le champ de ladite caractéristique de la première image produite par ledit défaut.</p> |
