| 发明名称 | 信号波形测定装置以及测定方法 | ||
| 摘要 | 本发明的信号波形测定装置(1A)由信号光学系统(11)、参照光学系统(16)、设定信号光(L1)与参照光(L2)的时间差的时间差设定手部(12)、包含染料分子结晶的结合体并以与入射到结晶集合体的入射光强度的r次方(r＞1)成比例的强度生成波长被变换为比入射光的波长短的变换光(L5)的波长变换元件(20)、在元件(20)中检测以与信号光(L1)的强度和参照光(L2)的强度以及与两者的时间差相对应的强度生成的变换光(L5)的光检测器(30)、对变换光(L5)的检测结果进行解析从而获得信号光(L1)的时间波形的信号波形解析部(40)构成。由此，可以实现以简单的结构高精度地检测信号光的时间波形的信号波形测定装置以及测定方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101957239A | 申请公布日期 | 2011.01.26 |
| 申请号 | CN200910254052.0 | 申请日期 | 2009.12.15 |
| 申请人 | 浜松光子学株式会社;国立大学法人东京大学 | 发明人 | 藤原弘康;川添忠;大津元一 |
| 分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 一种信号波形测定装置，其特征在于，具备：信号光学系统，对成为时间波形的测定对象的脉冲状信号光进行导光；参照光学系统，对被用于所述信号光的所述时间波形的测定的参照光进行导光；时间差设定部，针对所述信号光学系统以及所述参照光学系统的至少一方而设置，设定所述信号光与所述参照光的时间差；波长变换元件，包含染料分子结晶的集合体，并以与入射到所述染料分子结晶的集合体的入射光的强度的r次方(r＞1)成比例的强度，生成波长被变换为比所述入射光的波长短的变换光；光检测单元，通过入射来自于所述信号光学系统的所述信号光以及来自于所述参照光学系统的所述参照光，在所述波长变换元件中检测以与所述信号光的强度、所述参照光的强度以及对应于两者的时间差的强度而生成的所述变换光；以及信号波形解析单元，对所述光检测单元中的所述变换光的检测结果进行解析，从而获得所述信号光的所述时间波形。 | ||
| 地址 | 日本静冈县 | ||