发明名称 SISTEMA PARA ANALIZAR UNA PLURALIDAD DE MUESTRAS.
摘要 <p>Un sistema para analizar una pluralidad de muestras, comprendiendo el sistema: a. una platina (10) que presenta dos superficies (14, 16) planas sustancialmente paralelas y una pluralidad de agujeros de paso (12) para recibir un líquido, teniendo los agujeros de paso unas aberturas y unas paredes; b. una fuente de radiación óptica (50) para iluminar una pluralidad de agujeros de paso a lo largo de un eje óptico; y c. una red de detectores (56) para analizar la luz que emana de la pluralidad de agujeros de paso.</p>
申请公布号 ES2350702(T3) 申请公布日期 2011.01.26
申请号 ES20060075151T 申请日期 1999.01.05
申请人 MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY 发明人 HUNTER, IAN W.
分类号 B01L3/00;G01N33/483;B01F13/00;B01J19/00;C40B60/14;C40B70/00;G01N21/01;G01N21/03;G01N35/00;G01N37/00 主分类号 B01L3/00
代理机构 代理人
主权项
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