发明名称 X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法
摘要 在X射线计算机断层成像装置(1)和采用X射线计算机断层成像检测对象(2)的方法中,为改善图像质量,通过第一强度测量装置(13)测量X射线源(3)和对象(2)之间的X射线辐射(6)的第一强度,通过第二强度测量装置(15)测量在对象(2)和X射线检测器(4)之间位于对象(2)的投影区域(10)之外的X射线辐射(6)的第二强度。可通过所测量强度计算散射辐射校正因子以减小散射辐射。
申请公布号 CN101960297A 申请公布日期 2011.01.26
申请号 CN200980106833.3 申请日期 2009.02.25
申请人 弗朗霍夫应用科学研究促进协会 发明人 T·富赫斯;N·尤曼
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 杨晓光;张静娟
主权项 一种用于通过X射线计算机断层成像检测对象的X射线计算机断层成像装置,包括‑X射线源(3),用于产生X射线辐射(6),‑X射线检测器(4),用于检测X射线辐射(6),‑对象载体(5),用于将待检测对象(2)设置在所述X射线源(3)和所述X射线检测器(4)之间,以及‑评估单元(18),用于评估所检测的X射线辐射(6),其特征在于‑第一强度测量装置(13),其用于测量所述X射线辐射(6)的第一强度(I0),并被设置在所述X射线源(3)和所述对象载体(5)之间,‑第二强度测量装置(15),其用于测量所述X射线辐射(6)的第二强度(I1),并在所述对象载体(5)和所述X射线检测器(4)之间被设置所述对象(2)的投影区域(10)之外,‑所述强度测量装置(13,15)连至所述评估单元(18)以传送所测量的强度(I0,I1),以及‑所述评估单元(18)被配置为使得根据所测量强度(I0,I1)能够计算至少一个散射辐射校正因子(F)。
地址 德国慕尼黑