发明名称 |
可堆栈式半导体封装结构 |
摘要 |
本发明关于一种半导体工艺,其包括以下步骤:(1)形成一第一导电材料于一基板的一上表面,以形成数个第一导电凸块;(2)电性连接一半导体组件至该基板的上表面;(3)形成一封胶材料,以形成一封胶结构,该封胶结构覆盖这些第一导电凸块及该半导体组件,这些第一导电凸块的顶端凹陷于该封胶结构的一上表面之下;(4)形成数个邻接于该封胶结构的上表面的开口,这些开口显露这些第一导电凸块的顶端;(5)形成一第二导电材料于这些开口中,以形成数个第二导电凸块;及(6)形成数条切割狭缝,这些切割狭缝延伸通过该封胶结构及该基板。 |
申请公布号 |
CN101958261A |
申请公布日期 |
2011.01.26 |
申请号 |
CN201010257253.9 |
申请日期 |
2010.08.13 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
沈启智;陈仁川;张文雄 |
分类号 |
H01L21/60(2006.01)I;H01L21/48(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/60(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陆勍 |
主权项 |
一种半导体工艺,包括:提供一基板,该基板包括一上表面及数个焊垫,这些焊垫邻接于该基板的上表面;形成一第一导电材料于该基板的上表面,以形成数个第一导电凸块,这些第一导电凸块邻接于相对应的这些焊垫;电性连接一半导体组件至该基板的上表面;形成一封胶材料于该基板的上表面,以形成一封胶结构,该封胶结构覆盖这些第一导电凸块及该半导体组件,该封胶结构包括一上表面,这些第一导电凸块的顶端凹陷于该封胶结构的上表面之下;形成数个邻接于该封胶结构的上表面的开口,这些开口显露这些第一导电凸块的顶端;形成一第二导电材料于这些开口中,且于该第一导电凸块的顶端上,以形成数个第二导电凸块;及形成数条切割狭缝,这些切割狭缝延伸通过该封胶结构及该基板。 |
地址 |
中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |