发明名称 | 光刻胶层残留物的清洗方法 | ||
摘要 | 本发明中公开了一种光刻胶层残留物的清洗方法,该方法包括:增加水洗槽中各个喷嘴层中的喷嘴数目;调整所述水洗槽中的片架的位置,以减小所述水洗槽中第一喷嘴层中的喷嘴与所述片架上的晶片之间的最小直线距离,并增加所述片架与水洗槽底部的直线距离;将所需清洗的晶片放于所述水洗槽中的片架中,对所述晶片进行清洗,以去除所述晶片表面的光刻胶层残留物。通过使用上述的光刻胶层残留物的清洗方法,可有效地去除晶片表面的光刻胶层残留物,提高晶片表面的清洁度。 | ||
申请公布号 | CN101957564A | 申请公布日期 | 2011.01.26 |
申请号 | CN200910054836.9 | 申请日期 | 2009.07.15 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 杨永刚;刘轩;肖志强 |
分类号 | G03F7/42(2006.01)I | 主分类号 | G03F7/42(2006.01)I |
代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人 | 王一斌;王琦 |
主权项 | 一种光刻胶层残留物的清洗方法,该方法包括:增加水洗槽中各个喷嘴层中的喷嘴数目;将所需清洗的晶片放于所述水洗槽中的片架中,调整所述水洗槽中的片架的位置,以减小所述水洗槽中第一喷嘴层中的喷嘴与所述片架上的晶片之间的最小直线距离,并增加所述片架与水洗槽底部的直线距离;对所述晶片进行清洗,以去除所述晶片表面的光刻胶层残留物。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |