| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Untersuchen der Oberfläche eines Bauteils mittels einer Sondeneinrichtung (21), die mit einer Verfahreinrichtung (50) gekoppelt ist und mindestens einen Sondenträger (22, 23) aufweist, an dem mindestens ein Untersuchungsmittel angebracht ist.</p><p>Damit Oberflächendefekte in einem Bauteil (11) direkt und ohne Umrechnung dargestellt werden können, ist das Untersuchungsmittel eine Bildaufnahmeeinheit (26, 27).
</p> |
