发明名称 氮化物类半导体发光元件
摘要 一种氮化物类半导体发光元件,能够抑制在接触层和电极的界面上形成肖特基势垒。氮化物类半导体发光元件(LD1),具备:GaN基板(3);六方晶系的氮化镓类半导体区域(5),设在GaN基板的主面(S1)上且包括发光层(11);以及p电极(21),设在氮化镓类半导体区域上且由金属构成。氮化镓类半导体区域包括内含畸变的接触层(17),接触层与p电极连接,主面沿着从与GaN基板的c轴方向正交的面以预定的倾斜角度(θ)倾斜的基准平面(S5)延伸,倾斜角度包含在大于40度且小于90度的范围或150度以上且小于180度的范围中的某一范围中。氮化镓类半导体区域与GaN基板晶格匹配。
申请公布号 CN101958386A 申请公布日期 2011.01.26
申请号 CN201010231367.6 申请日期 2010.07.15
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 住友隆道;上野昌纪;京野孝史;盐谷阳平;善积祐介
分类号 H01L33/16(2010.01)I 主分类号 H01L33/16(2010.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 关兆辉;穆德骏
主权项 一种氮化物类半导体发光元件,其特征在于,具备:GaN基板;六方晶系的氮化镓类半导体区域,被设置在所述GaN基板的主面上且包括发光层;以及电极,被设置在所述氮化镓类半导体区域上且由金属构成,所述氮化镓类半导体区域包括内含畸变的接触层,所述接触层与所述电极连接,所述主面沿着从与所述GaN基板的c轴方向正交的面以预定的倾斜角度倾斜的基准平面延伸,所述倾斜角度包含在大于40度且小于90度的范围或在150度以上且小于180度的范围中的任一范围中,所述氮化镓类半导体区域与所述GaN基板晶格匹配,所述接触层由p型掺杂的InGaN或p型掺杂的InAlGaN构成,所述接触层由p型掺杂的InGaN构成时,所述接触层的In的组分比处于1%以上且20%以下的范围内,所述接触层由p型掺杂的InAlGaN构成时,所述接触层的In的组分比大于所述接触层的Al的组分比乘以0.22所得到的值。
地址 日本大阪府大阪市
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