| 主权项 |
1.一种基底位址设定之方法,系包括:读取一连串特定的位址;读取该一控制晶片之一基底位址;及记录该基底位址以做为下一次需存取该控制晶片位址之一基准値。2.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该读取一连串特定的位址之步骤,系意即所有读取动作当中不得被非设定之程序作读取或写入的动作中断。3.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该一连串特定的位址系用于区别不同的设定程序,以避免有复数个控制晶片设定了同一个基底位址。4.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该一连串特定的位址系包括该控制晶片之一厂商识别码、一产品识别码及一版本识别码。5.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该读取一连串特定的位址步骤中,在读取动作的同时该控制晶片会侦测该读取动作是否为设定该基底位址的程序。6.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该读取该一控制晶片之一基底位址步骤中,该读取动作系为设定该基底位址之动作,且设定基底位址即为读取的位址。7.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,其中该控制晶片系为一低脚位数量滙流排之装置内之输出入控制晶片。8.如申请专利范围第1项所述之基底位址设定之方法,进一步包含一验证所读取基底位址之正确性。图式简单说明:第一图系为低脚位数量滙流排标准架构图;第二图系为本发明之基底位址设定之方法流程图;及第三图系为本发明最佳实施例之基底位址设定之方法流程图。 |
