| 主权项 |
一种太阳能晶片之抗反射层厚度的检测装置，包括有：一输送单元，用以输送一太阳能晶片；一摄像单元，用以对该输送单元上的太阳能晶片进行影像撷取，并产生一影像资料，其中该太阳能晶片表面设置有一抗反射层；及一运算单元，由该摄像单元接收该影像资料，并将该影像资料区分成复数个影像单元，并取得该影像单元的色度，而后再由该影像单元的色度推算出该抗反射层的厚度。如申请专利范围第1项所述之检测装置，其中该影像资料由复数画素所组成，且该影像单元包括有至少一画素。如申请专利范围第2项所述之检测装置，其中该运算单元取得该影像单元之RGB数值，并用以将该影像单元之RGB数值转换到HSV之色彩空间。如申请专利范围第3项所述之检测装置，包括有一发光单元用以投射一白色光源至该太阳能晶片上。如申请专利范围第4项所述之检测装置，包括有一侦测单元用以对该发光单元所产生之白色光源进行检测。如申请专利范围第1项所述之检测装置，其中该抗反射层的厚度与该影像单元的色度约呈二次方反比的关系。如申请专利范围第1项所述之检测装置，其中该抗反射层为氮化矽。 |
