发明名称 基于四针飞针测试路径的优化方法
摘要 本发明涉及电路测试技术,尤其涉及一种基于四针飞针测试路径的优化方法。本发明所要解决的技术问题是:针对现有技术的不足提出一种减小测试次数和测试路径的基于四针飞针测试路径的优化方法。其技术方案的要点可概括为:在提取测试点信息后,对测试点进行划分,生成正面测试点集合和反面测试点集合,进行一次二维排序后再进行配对,配对完成后进行第二次二维排序,生成初始的测试队列,将该测试队列以N行为一个子队列的方式进行划分;i.对每个子队列采用最短路径插值法生成新的子队列;j.对新的子队列两两之间首尾连接,最终生成测试路径。本发明的有益效果是:减少测试次数,缩小测试路径,进而提高了测试效率。
申请公布号 CN101424723B 申请公布日期 2011.01.19
申请号 CN200810306198.0 申请日期 2008.12.12
申请人 四川长虹电器股份有限公司 发明人 王海鹏;余健
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 成都虹桥专利事务所 51124 代理人 李顺德
主权项 基于四针飞针测试路径的优化方法,其特征在于:包括以下步骤:a.读入IPC356格式文件,提取测试点信息及相邻网络信息;b.统计同一网络号同一测试标识相同测试点的个数,得到反面测试点点数,正面测试点点数,通孔测试点点数;c.根据正面测试点点数、反面测试点点数的大小,把通孔测试点按照使得正面测试点点数与反面测试点点数差值最小的方式进行划分,生成正面测试点集合和反面测试点集合;d.分别对正面测试点集合和反面测试点集合进行基于X坐标与Y坐标的二维排序,生成正面测试点队列与反面测试点队列;e.对正面测试点队列和反面测试点队列分别进行配对:e1.当正面测试点队列长度和反面测试点队列长度均大于0时,正面测试点队列、反面测试点队列均采用取二出一,取二出二方式交替出列进行配对,生成正面测试点行队列和反面测试点行队列;e2.当反面测试点队列长度为0时,采取正面测试点队列取二出一方式进行配对,生成正面测试点行队列;e3.当正面测试点队列长度为0时,采取反面测试点队列取二出一方式进行配对,生成反面测试点行队列;f.分别对正面测试点行队列和反面测试点行队列进行配对,采取取二出二方式进行行配对;g.对所有的测试点进行基于X坐标与Y坐标的二维排序,生成一个初始的测试队列;h.将该初始的测试队列以N行为一个子队列的方式进行划分;i.对每个子队列采用最短路径插值法生成新的子队列;j.对新的子队列两两之间首尾连接,最终生成测试路径。
地址 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号