测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统及方法

摘要

一种测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统及方法。系统：计算机分别与光源、单色仪、样品装置、及信号测量相连接；光源所发出的光通过单色仪、光路到样品装置；从样品装置出射的光信号通过光路至与计算机相连的信号测量。方法：获取输入计算设定波段内所有波长上实测光信号和测量误差值，获取并输入样品系统参数；进入折射率计算子程序；输入样品光学参数初始值与实测光信号相比计算并输出光折射率光谱；进入光传输理论计算子程序，调整样品光学参数比较实测光信号与计算光信号差别；差别小于测量误差值时计算并输出样品其他光学参数光谱，否则返回光传输理论计算子程序。本发明测量系统使用方便，能够准确地测定光信号和包括混浊材料在内的材料全部光学参数。

主权项

一种测定包括混浊介质材料全部光学参数的光谱仪系统，所述的全部光学参数是：吸收系数，散射系数，各向异性参数和折射率，其特征在于，系统包括有：光源部分，单色仪部分(2)，光路部分，样品装置部分，信号测量部分，和计算机部分(16)；其中，用于控制与数据处理及计算的计算机部分(16)分别与光源部分、单色仪部分(2)、样品装置部分、及信号测量部分相连接；光源部分所发出的光通过单色仪部分(2)、光路部分射入到样品装置部分；从样品装置部分出射的光信号通过光路部分至与计算机部分(16)相连的信号测量部分；其中，所述的样品装置部分包括有用于调节入射光进入样品的入射角度的样品转台(9)及设置于其上的内部装有样品(8)的样品盒(33)；所述的光路部分包括有：用于准直光束的位于单色仪部分(2)输出端的第一曲面反射镜(3)、位于第一曲面反射镜(3)反射光一侧的分光片(5)、以及接收样品装置部分中的样品(8)的准直透射光束(22)的反射镜(11)；用于聚焦的位于反射镜(11)的反射光一侧的第二曲面反射镜(12)，以及接收第二曲面反射镜(12)的反射光的狭缝(13)；所述的信号测量部分包括有：接收样品(8)的漫反射光束(21)的线阵光电探测器(7)；位于分光片(5)的一侧接收镜向反射光束(20)用来间接测量入射光强度信号的第一分立光电探测器(6)；接收样品(8)的漫透射光束(23)用来测量漫透射光强度信号的第二分立光电探测器(10)；位于狭缝(13)出射光一侧用来测量准直透射光强度信号的第三分立光电探测器(14)；接收各光电探测器(6、7、10、14)的光信号，并进行处理后送到计算机部分(16)的信号处理电路(15)。