发明名称 一种基于整体材料富集的微量近红外光谱分析方法
摘要 本发明涉及一种基于整体材料富集的微量近红外光谱分析方法,富集用整体材料在富集器件中原位聚合,或者在固定的模具中制备;根据需要对材料进行改性;原位聚合材料的厚度为5mm~10mm;对于在模具中预先合成的材料,将整体材料切成厚度为5mm~10mm的圆片;通过胶黏剂或物理卡套将整体材料圆片固定在器件的一端,并与边缘对齐;富集后,在浓缩有分析组分的材料表面用漫反射模式测量近红外光谱。本发明的优点:提高纯化和富集效果以外,实现富集后在材料表面的近红外光谱直接测定,提高分析灵敏度,达到微量物质的近红外光谱分析的目的;实现用近红外光谱对金属元素的间接测量;此材料可以重复使用,吸附和富集效果基本不变。
申请公布号 CN101660999B 申请公布日期 2011.01.19
申请号 CN200910195536.2 申请日期 2009.09.11
申请人 华东理工大学 发明人 杜一平;张维冰;陈贵平;方娟娟
分类号 G01N21/49(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I 主分类号 G01N21/49(2006.01)I
代理机构 上海三和万国知识产权代理事务所 31230 代理人 朱小晶
主权项 一种基于整体材料富集的微量近红外光谱分析方法,其特征在于,其具体步骤为:(1)富集用整体材料在富集器件中原位聚合,或者在固定的模具中制备;(2)根据需要对材料进行改性,合成的整体材料对被测物质具有高的富集效率,不发生化学反应,容易用溶剂洗脱去除;(3)原位聚合材料的厚度为5mm~10mm;对于在模具中预先合成的材料,将整体材料切成厚度为5mm~10mm的圆片,圆片的外径应与富集器件内径相吻合;(4)通过胶黏剂或物理卡套将整体材料圆片固定在富集器件的一端,并与边缘对齐,将圆片密封在器件内部;(5)在真空负压驱动作用下,样品溶液流经富集器件中的富集材料而使被测组分浓缩在材料表面;(6)在材料表面用漫反射模式测量近红外光谱。
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