IC管脚开短路测试方法

摘要

本发明涉及一种IC管脚开短路测试方法。该方法为：选取待测试IC芯片的任一引脚，并假定该引脚为VDD引脚，并在其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚；将上述假定VDD引脚接地或0V电压，并向上述比较引脚分别提供恒定电流；检测每一比较引脚的电压，若其中一比较引脚的电压值为0.3～1.3V，则上述假定VDD引脚为真实VDD引脚，反之不然；若上述假定VDD引脚不是真实VDD引脚，则重复上述步骤，直至检测出所有真实VDD引脚；VSS引脚的排查方法与上述方法相近；在排查出所有VDD引脚和VSS引脚后，对待测试IC芯片上的其余引脚进行开短路特性测试。本发明方法简便易操作，准确高效，成本低廉，适于在复杂的集成电路中广泛应用。

主权项

一种IC管脚开短路测试方法，其特征在于，该方法为：(1)选取待测试IC芯片的任一引脚，并假定该引脚为VDD引脚或VSS引脚，并在除此引脚之外的其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚；(2)将上述假定VDD引脚或VSS引脚接地或接0V电压，并向上述比较引脚提供100uA～500uA的恒定电流；(3)检测每一比较引脚的电压，若其中一比较引脚的电压值为+0.3～+1.3V或‑1.3V～‑0.3V，则上述假定VDD引脚为真实VDD引脚或上述假定VSS引脚为真实VSS引脚，反之则不是真实VDD引脚或真实VSS引脚；(4)若上述假定VDD引脚不是真实VDD引脚或上述假定VSS引脚不是真实VSS引脚，则任意选取另一引脚作为假定VDD引脚或假定VSS引脚，并在除此另一引脚之外的其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚，重复上述步骤(2)‑(3)的操作；(5)重复上述步骤(1)‑(4)的操作，直至检测出所有真实VDD引脚或真实VSS引脚；(6)排查出所有VDD引脚和VSS引脚后，对待测试IC芯片上的其余引脚进行开短路特性测试。