| 发明名称 | 用于分析具有不同拓扑图的表面与环境之间相互作用的高通量筛选方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于分析材料表面和环境间相互作用的高通量筛选方法，包括：提供包括所述材料并具有至少部分带有不同拓扑图的大量单元的微阵列；使至少部分所述大量单元与所述环境接触；和筛选所述微阵列以得出一个或多个所述单元与所述环境间的相互作用。 | ||
| 申请公布号 | CN101952720A | 申请公布日期 | 2011.01.19 |
| 申请号 | CN200880123869.8 | 申请日期 | 2008.10.31 |
| 申请人 | 屯特大学 | 发明人 | 简·德·波尔;克莱门斯·安东尼·万·布利特斯韦克;蒙特·维杰库玛·乌那德凯特;迪米特里奥斯·斯达曼堤利斯;拜仁迪恩·雅各巴·帕彭伯格;马赛厄斯·卫斯林 |
| 分类号 | G01N33/50(2006.01)I;G01N33/543(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 谢顺星 |
| 主权项 | 用于分析材料表面和环境间相互作用的高通量筛选方法，包括：‑提供包括所述材料并具有至少部分带有不同拓扑图的大量单元的微阵列；‑使至少部分所述大量单元与所述环境接触；和‑筛选所述微阵列以得出一个或多个所述单元与所述环境间的相互作用。 | ||
| 地址 | 荷兰恩斯赫德 | ||