用于相位对比成像的X射线探测器

摘要

本发明涉及一种X射线探测器(30)，其包括敏感元件(Pi-1，b，Pia，Pib，Pi+1，a，Pi+1，b)的阵列和在两个不同的敏感元件前方以不同的相位和/或周期设置的至少两个分析器光栅(G2a，G2b)。优选地，所述敏感元件被组织为例如四个相邻的敏感元件的宏像素(IIi)，其中相互具有不同相位的分析器光栅设置在所述敏感元件前面。特别地，将探测器(30)应用于X射线设备(100)以生成相位对比图像，这是由于X射线设备允许对由其在不同位置同时生成的强度图样(I)进行采样。

主权项

一种X射线探测器(30)，包括：a)X射线敏感元件的阵列(Pia，Pib，Pic，Pid)；b)至少两个分析器光栅(Gia，Gib，Gic，Gid)，其在两个不同的传感器元件前方以不同的相位和/或周期设置。