发明名称 |
光学数据记录介质的读取设备和读取方法 |
摘要 |
读取设备抑制了由提高输出激光功率所导致的记录标记的劣化,提高输出激光功率是为了补偿当以较高速度读取记录在高密度记录介质上的信息时的信噪比下降。为了读取记录在光学数据记录介质上的信息,读取方法将高频电流调制在半导体激光器的驱动电流上,以输出激光束;并根据读取所用的选定线速度,改变光调制率,其中,光学数据记录介质是利用从半导体激光器输出的激光束进行写入和读取的。光调制率是发射激光束光强度的峰值功率Pp和平均读取功率Pave的比值Pp/Pave。 |
申请公布号 |
CN101950566A |
申请公布日期 |
2011.01.19 |
申请号 |
CN201010518023.3 |
申请日期 |
2007.05.31 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
中村敦史;宫川直康 |
分类号 |
G11B7/005(2006.01)I;G11B7/125(2006.01)I;G11B19/28(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/005(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王玮 |
主权项 |
一种通过向记录介质上照射激光来从记录介质读取和再现信息的读取方法,所述读取方法包括以下步骤:从多种线速度中选择一种线速度;以及根据选定的线速度,改变光调制率,所述光调制率(Pp/Pave)是发射激光束光强度的峰值功率(Pp)和平均读取功率(Pave)的比值;其中,当在选择步骤选择第一线速度(Lv1)时,平均读取功率设定为第一平均读取功率(Pr1),并且光调制率设定为第一光调制率(Mod1);当在选择步骤选择至少为第一线速度(Lv1)的四倍的第二线速度(Lv2)时,平均读取功率设定为第二平均读取功率(Pr2),并且光调制率设定为第二光调制率(Mod2);其中,第二平均读取功率(Pr2)大于第一平均读取功率(Pr1),第二光调制率(Mod2)等于或小于第一光调制率(Mod1),并且满足如下表达式(1): <mrow> <msqrt> <mi>Lv</mi> <mn>2</mn> <mo>/</mo> <mi>Lv</mi> <mn>1</mn> </msqrt> <mo>≥</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mi>Mod</mi> <mn>1</mn> <mo>×</mo> <mi>Mod</mi> <mn>2</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mo>≥</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mo>.</mo> </mrow> |
地址 |
日本大阪府 |