发明名称 | 力学量检测构件和力学量检测装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种力学量检测构件及力学量检测装置。其中,该力学量检测构件包括:基体,其包括接触部的一部分或全部根据接触物体的按压而变形,并且当接触物体的按压消失时,其恢复初始形状;用作位移电极的多个电极固定至基体的表面或内部,并且至少一个电极设置在基体的变形部(其为在变形期间内可变形和可移位的区域)中;以及配线,连接至电极。在变形期间,位移电极随着变形部的变形和位移而变形和移位,而不会与基体分离并且不会破坏导电性。变形部的变形和移位作为检测电极间的电容变化来检测。 | ||
申请公布号 | CN101950224A | 申请公布日期 | 2011.01.19 |
申请号 | CN201010223201.X | 申请日期 | 2010.07.02 |
申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 角野宏治 |
分类号 | G06F3/044(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/044(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
主权项 | 一种力学量检测构件,包括:基体,其包括接触部的一部分或全部根据接触物体的按压而变形,并且当所述接触物体的按压消失时,其恢复初始形状;用作位移电极的多个电极,所述多个电极固定至所述基体的表面或内部,并且至少一个所述电极设置在所述基体的变形部中,所述变形部为在变形期间可变形和可移位的区域;以及配线,被连接至所述电极,其中,在所述变形期间,所述位移电极随着所述变形部的变形和位移而变形和移位,而不会与所述基体分离并且不会破坏导电性,以及其中,所述变形部的所述变形和移位作为所述电极间的电容变化来检测。 | ||
地址 | 日本东京 |