发明名称 ESD保護装置
摘要 ESD特性が劣化し難いESD保護装置を提供する。ESD保護装置1は、セラミック絶縁材10と、第1及び第2の放電電極21,22と、放電補助部51とを備える。第1及び第2の放電電極21,22は、セラミック絶縁材10に設けられている。放電補助部51は、第1の放電電極21の先端部と第2の放電電極22の先端部との間に配されている。放電補助部51は、第1の放電電極21と第2の放電電極22との間の放電開始電圧を低下させる電極である。放電補助部51は、導電性粒子と、半導体粒子及び絶縁性粒子のうちの少なくとも一方とを含む焼結体からなる。第1及び第2の放電電極21,22は、半導体粒子を構成している半導体材料及び絶縁性粒子を構成している絶縁材料のうちの少なくとも一方を含む。
申请公布号 JPWO2014027552(A1) 申请公布日期 2016.07.25
申请号 JP20140530509 申请日期 2013.07.25
申请人 株式会社村田製作所 发明人 築澤 孝之;足立 淳;今田 貴之;鷲見 高弘
分类号 H01T4/10;H01T1/24;H01T4/12 主分类号 H01T4/10
代理机构 代理人
主权项
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