发明名称 |
一种开发系统仿真智能卡芯片RAM随机性的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种在开发系统中仿真智能卡芯片RAM在上电时随机性的方法,涉及到开发系统与智能卡芯片RAM一致性的仿真领域。开发系统中采用FPGA芯片仿真智能卡芯片,在FPGA芯片中实现了随机数产生模块和RAM模块。当开发系统检测到读卡器下电,随机数产生模块在输入时钟的下降沿产生一个字节随机数,在输入时钟的上升沿将该随机数写入RAM。在读卡器对开发系统再次上电时,开发系统的RAM数据为随机值,与智能卡芯片RAM在读卡器上电时的数据随机情况相同。本发明解决了开发系统与智能卡在下电后RAM数据存在的差异,避免了在使用开发系统时,因RAM数据差异而引起设计失误。 |
申请公布号 |
CN101944037A |
申请公布日期 |
2011.01.12 |
申请号 |
CN200910088705.2 |
申请日期 |
2009.07.06 |
申请人 |
北京中电华大电子设计有限责任公司 |
发明人 |
周江瑜;张洪波 |
分类号 |
G06F9/45(2006.01)I;G06F9/445(2006.01)I |
主分类号 |
G06F9/45(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种开发系统仿真智能卡芯片RAM随机性的方法,其特征在于开发系统检测到读卡器下电后,对开发系统内部的RAM填充随机数,在读卡器上电时,开发系统的RAM具有和智能卡芯片RAM相同的随机性,RAM填充随机数的步骤如下:1)开发系统检测到读卡器下电后,产生输入时钟信号,同时写使能信号有效;2)在输入时钟信号的每个下降沿产生一个字节随机数,RAM地址同时递增,在输入时钟信号的每个上升沿将产生的随机数写入RAM;3)监测RAM地址,当整个RAM空间填充完成后,停止输入时钟信号,写使能信号无效,完成RAM填充操作。 |
地址 |
100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层 |