| 发明名称 | 相位差膜 | ||
| 摘要 | 本发明的目的在于提供一种正面对比度优异的相位差膜。为了达到该目的，本发明提供一种相位差膜，该相位差膜的特征在于，在散射光强度的测定中，将该膜设置在试样台上并使该膜的慢轴呈水平状态的情况下以及将该膜设置在试样台上并使该膜的慢轴呈垂直状态的情况下，其散射光强度积分值之差为0.1以下，所述散射光强度的测定采用光强分布测定仪测定入射光90°下的膜的散射光分布的散射光强度，该测定中，对与光源成95°～165°的位置处的散射光强度进行检测。 | ||
| 申请公布号 | CN101939673A | 申请公布日期 | 2011.01.05 |
| 申请号 | CN200980104665.4 | 申请日期 | 2009.01.19 |
| 申请人 | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 | 发明人 | 高木隆裕 |
| 分类号 | G02B5/30(2006.01)I;C08J5/18(2006.01)I | 主分类号 | G02B5/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 张涛 |
| 主权项 | 一种相位差膜，其特征在于，在散射光强度的测定中，将该膜设置在试样台上并使该膜的慢轴呈水平状态的情况下以及将该膜设置在试样台上并使该膜的慢轴呈垂直状态的情况下，其散射光强度积分值之差为0.1以下，所述散射光强度的测定采用光强分布测定仪测定入射光90°下的膜的散射光分布的散射光强度，该测定中，对与光源成95°～165°的位置处的散射光强度进行检测。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||