发明名称 Wafer-Level-gekapselte integrierte MEMS-Schaltung
摘要 Eine Wafer-Level-gekapselte integrierte Schaltung enthält ein Halbleitersubstrat mit einer ersten Siliziumschicht. Ein MEMS-Bauelement ist in die erste Siliziumschicht integriert. Ein über Dünnfilmtechnik abgeschiedenes Abdichtglied ist über der ersten Siliziumschicht abgeschieden und ist konfiguriert, einen Hohlraum in der ersten Siliziumschicht abzudichten. Mindestens eine zusätzliche Schicht ist über dem Abdichtglied ausgebildet. Mindestens eine UBM ist über der mindestens einen zusätzlichen Schicht ausgebildet.
申请公布号 DE102009042191(A1) 申请公布日期 2011.01.05
申请号 DE20091042191 申请日期 2009.09.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 THEUSS, HORST;LOEHNDORF, MARKUS;SCHOEN, FLORIAN
分类号 H01L23/495;B81B7/02;B81C1/00;H01L21/78;H01L23/31;H01L23/522;H01L25/07 主分类号 H01L23/495
代理机构 代理人
主权项
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