发明名称 |
Wafer-Level-gekapselte integrierte MEMS-Schaltung |
摘要 |
Eine Wafer-Level-gekapselte integrierte Schaltung enthält ein Halbleitersubstrat mit einer ersten Siliziumschicht. Ein MEMS-Bauelement ist in die erste Siliziumschicht integriert. Ein über Dünnfilmtechnik abgeschiedenes Abdichtglied ist über der ersten Siliziumschicht abgeschieden und ist konfiguriert, einen Hohlraum in der ersten Siliziumschicht abzudichten. Mindestens eine zusätzliche Schicht ist über dem Abdichtglied ausgebildet. Mindestens eine UBM ist über der mindestens einen zusätzlichen Schicht ausgebildet. |
申请公布号 |
DE102009042191(A1) |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
DE20091042191 |
申请日期 |
2009.09.18 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
THEUSS, HORST;LOEHNDORF, MARKUS;SCHOEN, FLORIAN |
分类号 |
H01L23/495;B81B7/02;B81C1/00;H01L21/78;H01L23/31;H01L23/522;H01L25/07 |
主分类号 |
H01L23/495 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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