发明名称 |
一种表面等离子体耦合荧光检测装置 |
摘要 |
一种表面等离子体耦合荧光检测装置,涉及一种荧光检测装置。提供一种体积小、结构简单、成本低、检测准确性高的表面等离子体耦合荧光检测装置。设有光源、光源架、旋转台、样品架、耦合器件、单色仪、检测器和控制处理器。光源设于光源架上,光源架设于旋转台上,样品架设于旋转台上,耦合器件设于样品架上,单色仪设于旋转台侧方,单色仪接受荧光信号,单色仪与检测器连接,检测器与控制处理器连接。具有结构紧凑和便于微型化的特点。可采用激光笔作为光源,体积小,能量强,结合微型单色仪即可实现仪器微型化。 |
申请公布号 |
CN101566568B |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN200910111882.8 |
申请日期 |
2009.05.27 |
申请人 |
厦门大学 |
发明人 |
李耀群;谢堂堂;蔡伟鹏 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
厦门南强之路专利事务所 35200 |
代理人 |
马应森;刘勇 |
主权项 |
一种表面等离子体耦合荧光检测装置,其特征在于设有光源、光源架、旋转台、样品架、耦合器件、单色仪、检测器和控制处理器,光源设于光源架上,光源架设于旋转台上,样品架设于旋转台上,耦合器件设于样品架上,单色仪设于旋转台侧方,单色仪接受荧光信号,单色仪与检测器连接,检测器与控制处理器连接;所述的光源采用激光笔,所述激光笔选用波长为405nm、473nm、532nm、593.5nm、808nm、980nm、1064nm或1342nm,功率为0.6~500mW的激光笔;所述的光源架设有可调节高度和仰度的调节件。 |
地址 |
361005 福建省厦门市思明南路422号 |