发明名称 |
板级测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种板级测试系统,其包括:测试上位机,通过数据采集卡与测试控制器连接,通过测试上位机提供的以太网、RS-232以及数据通信卡提供的RS-485、RS-422与待测电路板连接;测试控制器,分别与测试上位机中的数据采集卡和插箱背板连接,用于对测试所需的激励信号和测试输出信号进行电平变换,以及提供待测电路板和电平变换电路所需的受控电源;插箱背板,分别与所述测试控制器和待测电路板连接;以及容纳待测电路板的测试插箱。本发明能够保证进行板级测试时对待测电路板的保护,基于计算机辅助的全自动或半自动方式测试系统,尤其是对功能复杂的电路板,能够减少测试人员的工作强度,提高效率,减少测试人为错误的发生,具有较高的使用价值。 |
申请公布号 |
CN101937222A |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN201010256321.X |
申请日期 |
2010.08.17 |
申请人 |
北京交通大学 |
发明人 |
郜春海;袁彬彬;马连川;王悉 |
分类号 |
G05B19/418(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
王莹 |
主权项 |
一种板级测试系统,其特征在于,包括:测试上位机,配置数据采集卡、数据通信卡和板级测试软件,通过数据采集卡与测试控制器连接,通过以太网、其本身的接口RS‑232以及数据通信卡提供的RS‑485接口、RS‑422接口与待测电路板连接,通过运行板级测试软件完成对待测电路板的测试;测试控制器,分别与测试上位机中的数据采集卡和测试插箱背板连接,用于对测试所需的测试激励信号和测试输出信号进行电平变换,以及提供待测电路板和电平变换所需的受控电源;测试插箱背板,分别与所述测试控制器和待测电路板连接,以及测试插箱,用于容纳待测电路板。 |
地址 |
100044 北京市海淀区上园村3号 |