发明名称 |
产生不对称场效应晶体管的方法 |
摘要 |
本发明提供一种形成不对称场效应晶体管的方法。该方法包括以下步骤:在半导体衬底的顶上至少形成第一和第二栅极-掩模叠层,其中第一和第二栅极-掩模叠层至少分别包括第一和第二晶体管的第一和第二栅极导体并分别具有顶表面、第一侧以及第二侧,其中第二侧与第一侧相反;从第一和第二栅极-掩模叠层的第一侧以第一角度进行第一晕圈注入,同时应用第一栅极-掩模叠层来防止第一晕圈注入到达第二晶体管的第一源极/漏极区,其中第一角度等于或大于预定值;以及从第一和第二栅极-掩模叠层的第二侧以第二角度进行第二晕圈注入,由此在第二晶体管的第二源极/漏极区中产生晕圈注入物,其中相对于衬底的法线测量第一和第二角度。 |
申请公布号 |
CN101937874A |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN201010212242.9 |
申请日期 |
2010.06.23 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
G·G·弗里曼;苏宁;N·罗韦多;俞剑;S·纳拉辛哈;H·M·纳飞;W·A·劳施 |
分类号 |
H01L21/8234(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8234(2006.01)I |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 11247 |
代理人 |
于静;杨晓光 |
主权项 |
一种方法,包括以下步骤:在半导体衬底的顶上至少形成第一和第二栅极‑掩模叠层,其中所述第一和第二栅极‑掩模叠层至少分别包括第一和第二晶体管的第一和第二栅极导体并分别具有顶表面、第一侧和第二侧,其中所述第二侧与所述第一侧相反;从所述第一和第二栅极‑掩模叠层的所述第一侧以第一角度进行第一晕圈注入,同时应用所述第一栅极‑掩模叠层来防止所述第一晕圈注入到达所述第二晶体管的第一源极/漏极区,其中所述第一角度等于或大于预定值;以及从所述第一和第二栅极‑掩模叠层的所述第二侧以第二角度进行第二晕圈注入,由此在所述第二晶体管的第二源极/漏极区中产生晕圈注入物,其中相对于所述衬底的法线测量所述第一和第二角度。 |
地址 |
美国纽约 |