发明名称 |
匀场框架位置校正方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种匀场框架位置校正方法,包括:A、进行激光灯定位,并将病床(PTAB)移动到所认为的中心位置;B、测量得到所需图像,并根据测量得到的图像确定所述PTAB偏离实际中心位置的距离和方向;按照确定出的距离和方向移动所述PTAB。本发明同时公开了一种匀场框架位置校正装置。应用本发明所述的方法和装置,能够提高匀场框架的位置精度,从而提高成像质量,且易于实现。 |
申请公布号 |
CN101936706A |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN200910148476.9 |
申请日期 |
2009.06.30 |
申请人 |
西门子迈迪特(深圳)磁共振有限公司 |
发明人 |
贺强;廖然;陈进军 |
分类号 |
G01B11/00(2006.01)I;G01R33/387(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种匀场框架位置校正方法,该方法包括:A、将病床移动到所认为的中心位置;B、测量得到所需图像,根据测量得到的图像确定所述病床偏离实际中心位置的距离和方向,并向实际中心位置移动所述病床。 |
地址 |
518057 广东省深圳市高新区中区高新中二道西门子磁共振园 |