发明名称 匀场框架位置校正方法和装置
摘要 本发明公开了一种匀场框架位置校正方法,包括:A、进行激光灯定位,并将病床(PTAB)移动到所认为的中心位置;B、测量得到所需图像,并根据测量得到的图像确定所述PTAB偏离实际中心位置的距离和方向;按照确定出的距离和方向移动所述PTAB。本发明同时公开了一种匀场框架位置校正装置。应用本发明所述的方法和装置,能够提高匀场框架的位置精度,从而提高成像质量,且易于实现。
申请公布号 CN101936706A 申请公布日期 2011.01.05
申请号 CN200910148476.9 申请日期 2009.06.30
申请人 西门子迈迪特(深圳)磁共振有限公司 发明人 贺强;廖然;陈进军
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01R33/387(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种匀场框架位置校正方法,该方法包括:A、将病床移动到所认为的中心位置;B、测量得到所需图像,根据测量得到的图像确定所述病床偏离实际中心位置的距离和方向,并向实际中心位置移动所述病床。
地址 518057 广东省深圳市高新区中区高新中二道西门子磁共振园