发明名称 |
测量电阻值的方法及电路 |
摘要 |
本发明提供一种测量电阻值的方法及电路,该电路包括:一第一子电路,用以接收一输入电压,并产生一第一电压与一第二电压,该第一电压产生流经一电阻性装置的一第一电流,而该第二电压产生该第二电流;一节点,电性耦接至该电阻性装置,并具有一第三电压,该第三电压产生一第三电流;以及一第二子电路,用以产生一第四电压,其具有一逻辑态,表示该电阻性装置的逻辑态。本发明可以有效率并精确地测量电熔丝电阻值。 |
申请公布号 |
CN101937717A |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN201010221425.7 |
申请日期 |
2010.06.30 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
许国原;陈柏宏;黄建程;苏布拉马尼·肯基瑞 |
分类号 |
G11C17/16(2006.01)I;G01R27/08(2006.01)I |
主分类号 |
G11C17/16(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
姜燕;陈晨 |
主权项 |
一种用于半导体芯片的方法,该半导体芯片具有与一电阻性装置电性耦接的一第一电路,包括:由该半导体芯片的外部对该第一电路施加一外部输入电压以产生该半导体芯片外部的一外部输出电压;以及判断该电阻性装置的一逻辑态依据该外部输出电压的一逻辑态。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |