发明名称 |
薄晶片处理结构及薄晶片接合及剥离的方法 |
摘要 |
本发明提供一种薄晶片处理结构及薄晶片接合及剥离的方法,该薄晶片处理结构包含一半导体晶片;一剥离层,其可由施予能量予以剥离;一粘着层,其可由一溶剂予以移除,其中此剥离层由涂布或压合方式施加在载材上,此粘着层以涂布或压合方式施加在此半导体晶片上;以及此剥离层及此粘着层位于此半导体晶片及此载材之间并将其相互接合。此方法包含施加一剥离层至一载材上;施加一粘着层至一半导体晶片上;接合此载材及此半导体晶片;对此剥离层施予UV或激光的能量以剥离此剥离层;以及以溶剂清洁此半导体晶片表面以移除所有的粘着层残余物。本发明的晶片在剥离后的清洁表面,及在后结合工艺中具有良好的化学抵抗性。 |
申请公布号 |
CN101937880A |
申请公布日期 |
2011.01.05 |
申请号 |
CN201010218125.3 |
申请日期 |
2010.06.28 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
余振华;许国经;陈承先;萧景文 |
分类号 |
H01L23/00(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/00(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
姜燕;邢雪红 |
主权项 |
一种薄晶片处理结构,包括:一半导体晶片;一剥离层,其可由施加能量予以剥离;一粘着层,其可由溶剂予以移除;以及一载材;其中该剥离层以涂布或压合方式至少其一施加至该载材,该粘着层以涂布或压合方式至少其一施加至该半导体晶片,该半导体晶片及该载材相互接合,且该剥离层及该粘着层位于该半导体晶片及该载材之间。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |