发明名称 | 用于列缺陷译码的冗余位模式 | ||
摘要 | 本发明涉及用于译码及解码用于列缺陷制图的冗余译码的技术。以不同于用于功能单元群组的位模式的位模式对存储器阵列中的经识别的有缺陷单元群组进行冗余编码。使用所述存储器阵列中的冗余单元群组修复所述经识别的有缺陷单元群组。稍后通过检查所述有缺陷单元群组中所编码的冗余位模式来重新识别所述单元群组。如果识别出新的有缺陷单元群组,那么将所述存储器阵列识别为失败。如果没有识别出新的有缺陷单元群组,那么将所述存储器阵列识别为通过,且修复所述经识别的有缺陷单元群组。 | ||
申请公布号 | CN101939792A | 申请公布日期 | 2011.01.05 |
申请号 | CN200880121004.8 | 申请日期 | 2008.12.15 |
申请人 | 爱特梅尔卢梭公司 | 发明人 | 马克·梅朗达;伊夫·富塞拉 |
分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 孟锐 |
主权项 | 一种方法,其包括:确定存储器阵列中的有缺陷列的数目;以冗余位模式编码所述存储器阵列中的有缺陷列及无缺陷列;及将有缺陷列的所述数目存储在所述存储器阵列的位置中。 | ||
地址 | 法国鲁塞 |