探知积体电路测试承座传输频宽之快速检测方法

主权项

一种探知积体电路测试承座传输频宽之快速检测方法，其步骤为：步骤一：先将SMA接头轴心对准于积体电路测试承座内导针二端；步骤二：以缆线连结SMA接头与向量网路分析仪，形成一量测回路；步骤三：再经由向量网路分析仪取得积体电路测试承座含SMA接头之电气特性量测资料；步骤四：将所得资料以SPICE model等效电路软体建构为RLC等效电路；步骤五：将SMA接头寄生效应自量测所得结果中去除，即可得到单纯积体电路测试承座之传输频寛。如申请专利范围第1项所述之探知积体电路测试承座传输频宽之快速检测方法，其中该步骤一之SMA接头系固定于测试承座上。如申请专利范围第1项所述之探知积体电路测试承座传输频宽之快速检测方法，其中该向量网路分析仪系经由讯号埠送出扫频讯号，并由接收埠接收进行量测，以得到积体电路测试承座含SMA接头之电气特性量测资料。