发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供如下的半导体装置及其制造方法:能够防止在激光焊接中产生的飞溅物附着于电路图案或半导体芯片,能够防止电气特性的劣化。利用焊锡(13)在形成于陶瓷(4)上的铜箔上固定连接导体(14),在该连接导体(14)的上部面(P)的下方填充树脂(17a)并进行激光焊接,然后填充树脂(17b),由此,能够防止在激光焊接中产生的飞溅物(21)附着于电路图案(5)、(6)或半导体芯片(8)的情况。由此,能够防止电气特性劣化。 |
申请公布号 |
CN101933139A |
申请公布日期 |
2010.12.29 |
申请号 |
CN200880120955.3 |
申请日期 |
2008.12.09 |
申请人 |
爱信艾达株式会社;富士电机系统株式会社 |
发明人 |
鹤冈纯司;青木一雄;小野正树;吉原克彦 |
分类号 |
H01L23/29(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L25/07(2006.01)I;H01L25/18(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/29(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
黄纶伟;马建军 |
主权项 |
一种半导体装置,其特征在于,该半导体装置具有:电路图案,其形成于绝缘基板上;半导体芯片,其固定于所述电路图案上;连接导体,其固定于所述电路图案或所述半导体芯片的至少一方;绝缘树脂,其使所述连接导体的焊接部露出,并覆盖所述电路图案、所述半导体芯片;以及外部端子,其使主电流流入所述半导体芯片的主电极,利用激光焊接与所述连接导体的所述焊接部接合。 |
地址 |
日本爱知县 |