| 发明名称 | 使用线性反馈移位寄存器在存储器内建自测试环境中的故障诊断 | ||
| 摘要 | 本发明所公开内容为在存储器内建自测试环境中对失败的存储器测试的测试响应标记进行暂时压缩的方法和器件，其目的是即使在检测到多个与时间相关的存储器测试故障时也能够进行存储器内建自测试操作。在本发明的一些实施例中，被压缩的测试响应标记在自动化测试设备器件上与存储器位置信息一起给出。根据本发明的各种实施例，带有嵌入式存储器(204)的集成电路以及存储器BIST控制器(206)还包括用作标记寄存器的线性反馈结构(410)，可在存储器测试的某一测试步骤中对来自嵌入式存储器阵列的测试响应标记进行暂时压缩。在各种实施例申，集成电路还可能包括失效字计数器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214)，用以对失败的测试响应收集存储器位置信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101933098A | 申请公布日期 | 2010.12.29 |
| 申请号 | CN200880116522.0 | 申请日期 | 2008.09.18 |
| 申请人 | 明导公司 | 发明人 | 尼兰简·穆克赫杰;阿图尔·波吉尔;贾纳兹·拉杰斯基;杰齐·泰泽 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;G11C29/40(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 郑小粤 |
| 主权项 | 一种测试嵌入式存储器的方法，包括：操作集成电路器件的存储器内建自测试控制器，以应用测试步骤对所述集成电路器件的嵌入式存储器进行测试；对失败的存储器测试生成多个测试响应标记；使用线性反馈结构暂时压缩所述测试响应标记；收集与失败的存储器测试相关联的存储器位置信息；并且将所述被暂时压缩的测试响应标记和所收集的存储器位置信息提供给诊断工具，以供在存储器故障诊断过程中使用。 | ||
| 地址 | 美国俄勒冈州 | ||