发明名称 | 塑料薄膜对折错位量及对折弓形量的测量装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种塑料薄膜对折错位量及对折弓形量的测量装置,其支架的同一平面上,有三把平行安装于其同一侧的等间距布置的直尺,三把直尺的基准线位于同一直线上,中间的直尺在基准线的两侧均标有测量距离的刻度线。使用时,将待测薄膜样品对折,沿基准线延伸的方向拉直在三把直尺上,并使薄膜在两侧的直尺处的两层的边缘均对相应直尺的基准线。通过读取中间直尺处上、下两层薄膜边缘之间的距离,上、下两层薄膜边缘到基准线间的距离,即可测得薄膜的对折错位量和对折弓形量。其可简单、方便的测量薄膜的对折错位量和对折弓形量。 | ||
申请公布号 | CN201688801U | 申请公布日期 | 2010.12.29 |
申请号 | CN201020215308.5 | 申请日期 | 2010.06.04 |
申请人 | 佛山市金辉高科光电材料有限公司 | 发明人 | 蔡朝辉;吴再庆;严志燎;方丽 |
分类号 | G01B5/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/02(2006.01)I |
代理机构 | 广州致信伟盛知识产权代理有限公司 44253 | 代理人 | 李东来 |
主权项 | 塑料薄膜对折错位量及对折弓形量的测量装置,其特征在于:包括支架,支架的同一侧等间距的安装有三个水平伸出的直尺,该三个直尺的彼此平行、位于同一水平面,其基准线位于同一直线上,中间的直尺在基准线的两侧均标有测量距离的刻度线。 | ||
地址 | 528000 广东省广州市佛山禅城区轻工三路7号 |