发明名称 多芯片封装结构以及形成多芯片封装结构的方法
摘要 一种多芯片封装结构以及形成多芯片封装结构的方法,多芯片封装包含:芯片载体;半导体裸芯片,设置在芯片载体的裸芯片依附面上,其中,多个输入/输出焊盘位于半导体裸芯片之内或之上;重布线层压结构,位于半导体裸芯片上,包含耦接该多个输入/输出焊盘的多个重新分配接合焊盘;至少一个接合线,用以将至少一个重新分配接合焊盘与芯片载体互连;芯片封装,设置在至少另一个该重新分配接合焊盘上;以及胶体,封装接合线的至少一部分。利用本发明,可解决由于裸芯片体积减小而引起的接合焊盘间距限制问题,并且实现了叠层封装结构的多芯片封装,从而可提高芯片性能。
申请公布号 CN101930971A 申请公布日期 2010.12.29
申请号 CN201010199279.2 申请日期 2010.06.09
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 谢东宪
分类号 H01L25/00(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L25/00(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 葛强;张一军
主权项 一种多芯片封装结构,包含:芯片载体;半导体裸芯片,设置在该芯片载体的裸芯片依附面上,其中,多个输入/输出焊盘位于该半导体裸芯片之内或者之上;重布线层压结构,位于该半导体裸芯片之上,该重布线层压结构包含多个重新分配接合焊盘,其中,多个该重新分配接合焊盘耦接该多个输入/输出焊盘;至少一个接合线,将至少一个该重新分配接合焊盘与该芯片载体互连;芯片封装,设置在至少另一个该重新分配接合焊盘之上;以及胶体,封装该接合线的至少一部分。
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号