发明名称 制造平板基体的方法
摘要 为了避免PECVD反应器的金属内表面影响沉积在大表面基体(15)上的μc-Si层(19)的厚度均匀性和质量均匀性,在单次处理每个基体之前用介电层(13)预涂布至少部分所述壁。
申请公布号 CN101208457B 申请公布日期 2010.12.29
申请号 CN200680023110.3 申请日期 2006.06.28
申请人 欧瑞康太阳IP股份公司(特吕巴赫) 发明人 H·特兰奎克;J·维勒特
分类号 C23C16/44(2006.01)I;C23C30/00(2006.01)I 主分类号 C23C16/44(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 刘冬;韦欣华
主权项 一种制造平板基体的方法,所述基体大小至少2500cm2,且具有在真空反应器中用PECVD法沉积的Si层,所述真空反应器具有基体载体第一电极及与之相隔一段空间的气体倾注第二电极,所述方法包括:a)在所述电极之间的反应空间中产生RF等离子体放电;b)使介电预涂层沉积在所述反应器的至少部分内表面上;c)将一个基体引入所述反应器内;d)使介电层沉积在所述基体的表面上;e)用PECVD使所述Si层沉积在所述介电层上;f)重复步骤b)至e)以制造每个单一基体,由此使所述Si层沉积成为μc Si层,其中步骤b)包括沉积所述介电预涂层,所述介电预涂层有效厚度d是:200nm≤d≤500nm。
地址 瑞士特吕巴赫
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