| 发明名称 | 分析用具 | ||
| 摘要 | 本发明涉及在具有保持试料和试药的反应液的多个反应槽(56)的分析用具(Y)中指定各反应槽(56)的位置的技术。分析用具(Y)包括识别该分析用具(Y)指定部位的基准部(66)。该基准部(66)可以光学地确认，成为指定各反应槽(56)的位置用的基准。 | ||
| 申请公布号 | CN1985174B | 申请公布日期 | 2010.12.22 |
| 申请号 | CN200580023567.X | 申请日期 | 2005.07.12 |
| 申请人 | 爱科来株式会社 | 发明人 | 藤本浩司;堀雅贵 |
| 分类号 | B01L3/00(2006.01)I | 主分类号 | B01L3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 一种分析用具，包括用于保持试料和试药的反应液的多个反应槽，其特征在于：还具有用于识别该分析用具的指定部位的基准部，所述多个反应槽被配置在同一圆周上，所述基准部被配置在与所述多个反应槽相同的圆周上，所述基准部在所述圆周上互相邻接的反应槽之间形成，而且包含多个线条部，所述多个线条部分别沿该分析用具的半径方向延伸，所述多个线条部以等间隔或大致等间隔在所述圆周方向上排列配置，所述多个反应槽的间隔被设定为所述多个线条部的间隔的非整数倍。 | ||
| 地址 | 日本京都 | ||