发明名称 |
集成电路结构 |
摘要 |
本发明的集成电路结构,包括半导体基板;多个绝缘区,位于半导体基板上;以及外延区,位于半导体基板上,且至少部分外延区位于所述多个绝缘区之间的空间中。外延区包括III-V族化合物半导体材料。外延区包括下层部分,与位于下层部分上的上层部分。下层部分与半导体基板之间具有第一晶格不匹配数值。上层部分与半导体基板具有第二晶格不匹配数值,且第一晶格不匹配数值不同于第二晶格不匹配数值。本发明的实施例提供低成本的工艺,以低成本的渐变式工艺调整III-V族化合物半导体材料的组成,可生长高迁移率与低缺陷的III-V族化合物半导体材料。 |
申请公布号 |
CN101924105A |
申请公布日期 |
2010.12.22 |
申请号 |
CN201010194429.0 |
申请日期 |
2010.05.28 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
柯志欣;万幸仁 |
分类号 |
H01L27/088(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/20(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/088(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
姜燕;邢雪红 |
主权项 |
一种集成电路结构,包括:一半导体基板;多个绝缘区,位于该半导体基板上;以及一外延区,位于该半导体基板上,且至少部分该外延区位于所述多个绝缘区之间的空间中,其中该外延区包括一第一III V族化合物半导体材料,且其中该外延区还包括:一下层部分,其中该下层部分与该半导体基板之间具有一第一晶格不匹配数值;以及一上层部分,位于该下层部分上,其中该上层部分与该半导体基板具有一第二晶格不匹配数值,且该第一晶格不匹配数值不同于该第二晶格不匹配数值。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |