发明名称 集成电路结构
摘要 本发明的集成电路结构,包括半导体基板;多个绝缘区,位于半导体基板上;以及外延区,位于半导体基板上,且至少部分外延区位于所述多个绝缘区之间的空间中。外延区包括III-V族化合物半导体材料。外延区包括下层部分,与位于下层部分上的上层部分。下层部分与半导体基板之间具有第一晶格不匹配数值。上层部分与半导体基板具有第二晶格不匹配数值,且第一晶格不匹配数值不同于第二晶格不匹配数值。本发明的实施例提供低成本的工艺,以低成本的渐变式工艺调整III-V族化合物半导体材料的组成,可生长高迁移率与低缺陷的III-V族化合物半导体材料。
申请公布号 CN101924105A 申请公布日期 2010.12.22
申请号 CN201010194429.0 申请日期 2010.05.28
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 柯志欣;万幸仁
分类号 H01L27/088(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/20(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L27/088(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 姜燕;邢雪红
主权项 一种集成电路结构,包括:一半导体基板;多个绝缘区,位于该半导体基板上;以及一外延区,位于该半导体基板上,且至少部分该外延区位于所述多个绝缘区之间的空间中,其中该外延区包括一第一III V族化合物半导体材料,且其中该外延区还包括:一下层部分,其中该下层部分与该半导体基板之间具有一第一晶格不匹配数值;以及一上层部分,位于该下层部分上,其中该上层部分与该半导体基板具有一第二晶格不匹配数值,且该第一晶格不匹配数值不同于该第二晶格不匹配数值。
地址 中国台湾新竹市