发明名称 | 一种激光扫描仪的检校方法及检校系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种激光扫描仪的检校方法和系统,其中在激光扫描仪工作区域内布设多个标志点;控制激光扫描仪沿垂直于扫描方向的轴线匀速升降,并对工作区域测量成像;用参考测距仪获取激光扫描仪扫描中心在升降前后的局部坐标;用参考测距仪获取标志点的局部坐标;识别激光扫描仪点云中的标志点及其仪器坐标,并提取标志点的扫描时间;根据所述标志点的扫描时间计算其时激光扫描仪中心的局部坐标,并用以求解仪器坐标系到局部坐标系之间的变换关系。从而克服了传统方式中人工参与控制靶杆移动带来的不稳定性,获得高精度的检校结果。 | ||
申请公布号 | CN101923163A | 申请公布日期 | 2010.12.22 |
申请号 | CN201010237272.5 | 申请日期 | 2010.07.22 |
申请人 | 首都师范大学 | 发明人 | 宫辉力;王留召;钟若飞;刘先林 |
分类号 | G01S7/497(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/497(2006.01)I |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人 | 孙皓晨;朱世定 |
主权项 | 一种激光扫描仪的检校方法,其特征在于,包括以下步骤:S10,在激光扫描仪工作区域内布设多个标志点;S20,控制激光扫描仪沿垂直于扫描方向的轴线匀速升降,并对工作区域测量成像;S30,用参考测距仪获取激光扫描仪扫描中心在升降前后的局部坐标;S40,用参考测距仪获取标志点的局部坐标;S50,识别激光扫描仪点云中的标志点及其仪器坐标,并提取标志点的扫描时间;S60根据所述标志点的扫描时间计算其时激光扫描仪中心的局部坐标,并用以求解仪器坐标系到局部坐标系之间的变换关系。 | ||
地址 | 100037 北京市海淀区西三环北路105号 |