发明名称 |
校准质谱仪与其它仪器系统和处理质谱与其它数据的方法 |
摘要 |
一种用于得到用于校准质谱(MS)仪系统的至少一个校准滤波器的方法。对于给定的校准标准,得到在质谱范围中的测量的同位素峰集群数据。对于给定的校准标准计算出相对同位素丰度和相应于该丰度的同位素的实际的质量位置。规定处在各个质谱范围内的中心的质谱目标峰形状函数。在计算出的相对同位素丰度与质谱目标峰形状函数之间执行卷积运算,以形成计算的同位素峰集群数据。在测量的同位素峰集群数据与在卷积运算后计算的同位素峰集群数据之间执行去卷积运算,以得到该至少一个校准滤波器。为归一化峰宽度、组合内部和外部校准、以及使用选择的测量峰作为标准也提出措施。该方法的也适用于其它分析仪器。 |
申请公布号 |
CN1898674B |
申请公布日期 |
2010.12.22 |
申请号 |
CN200480038243.9 |
申请日期 |
2004.10.20 |
申请人 |
瑟诺生物科学有限责任公司 |
发明人 |
Y·王;M·古 |
分类号 |
G06F19/00(2006.01)I;G06F15/00(2006.01)I;G01N3/00(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I;C12Q1/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06F19/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
程天正;梁永 |
主权项 |
一种为了得到用于校准质谱仪系统的至少一个校准滤波器的方法,包括以下步骤:对于给定的带同位素的校准标准离子,得到在质谱范围中测量的同位素峰集群数据;对于给定的带同位素的校准标准离子,计算相对同位素丰度和相应于该丰度的同位素的实际的质量位置;规定质谱目标峰形状函数;在计算的相对同位素丰度与质谱目标峰形状函数之间执行卷积运算,以形成计算出的同位素峰集群数据;以及在测量的同位素峰集群数据与在卷积运算后计算出的同位素峰集群数据之间执行去卷积运算,以得到至少一个校准滤波器。 |
地址 |
美国康涅狄格州 |