发明名称 |
一种通用型测试板及其使用方法 |
摘要 |
本发明的通用型测试板及使用方法,该通用型测试板可用于测试管脚分布不同的封装芯片,它除了包括数个具有两列插针的连接器,数个具有两列插针的电源连接器和芯片插座,还包括数个缓冲连接器和数个电源缓冲连接器。缓冲连接器与芯片插座和连接器相连,电源缓冲连接器与电源连接器相连。在本发明的测试板上对芯片进行测试时,根据测试芯片管脚的分布,对缓冲连接器插针的连接通道进行电源通道或信号通道的配置。通过该方法使得本发明的测试板可测各种管脚分布不同的封装芯片,使得在测试特定管脚分布的芯片时,不需要专用的测试板,这样可有效解决芯片测试的经济成本。 |
申请公布号 |
CN101464490B |
申请公布日期 |
2010.12.22 |
申请号 |
CN200710172423.1 |
申请日期 |
2007.12.17 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
何莲群;刘云海 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种通用型测试板,所述测试板包括数个具有两列插针的连接器,数个具有两列插针的电源连接器和一个具有若干管脚插槽的芯片插座,其特征在于,它还包括数个具有数列插针的缓冲连接器和数个具有两列插针的电源缓冲连接器;所述缓冲连接器的插针与芯片插座和连接器相连,所述电源缓冲连接器的插针与电源连接器的插针连接,其中已通过所述芯片插座与芯片的电源管脚相连的缓冲连接器的插针与所述电源缓冲连接器上的插针连接。 |
地址 |
201203 上海市张江路18号 |