发明名称 IC TESTING METHODS AND APPARATUS
摘要
申请公布号 EP1982205(B1) 申请公布日期 2010.12.22
申请号 EP20070700042 申请日期 2007.01.04
申请人 NXP B.V. 发明人 WAAYERS, TOM;MEIRLEVEDE, JOHAN, C.;PRICE, DAVID, P.;SCHOMANN, NORBERT;SOLBACH, RUEDIGER;FLEURY, HERVE;POELS, JOZEF, R.
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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