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经营范围
发明名称
IC TESTING METHODS AND APPARATUS
摘要
申请公布号
EP1982205(B1)
申请公布日期
2010.12.22
申请号
EP20070700042
申请日期
2007.01.04
申请人
NXP B.V.
发明人
WAAYERS, TOM;MEIRLEVEDE, JOHAN, C.;PRICE, DAVID, P.;SCHOMANN, NORBERT;SOLBACH, RUEDIGER;FLEURY, HERVE;POELS, JOZEF, R.
分类号
G01R31/3185
主分类号
G01R31/3185
代理机构
代理人
主权项
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