发明名称 基于FPGA专用延迟单元的同周期信号相位差测量方法
摘要 本发明公开了一种相同周期信号相位差测量电路,包括128个IODELAY(Xilinx FPGA专用可编程输入输出延迟单元),1个D触发器,128个6位计数器,1个逻辑控制电路,两路被测同周期信号:第一路周期信号CLK1,第二路周期信号CLK2。本发明提出了一种高精度测量同周期信号相位差的方法:CLK1送给IODELAY的输入端,经过IODELAY逐级延迟,输入D触发器的D端;CLK2通过FPGA的全局时钟网络输入到D触发器的CLK端和计数器的CLK端;并通过检测D触发器输出端Q值的变化,得到延迟后的CLK1和CLK2的边沿重合信息,可以根据IODELAY延迟量达到测量同周期信号相位差的目的。
申请公布号 CN101915875A 申请公布日期 2010.12.15
申请号 CN201010243491.4 申请日期 2010.07.30
申请人 西安电子科技大学 发明人 王海;姚秦;刘杰;王俭;曾宪雄;张敏;范慧娟
分类号 G01R25/00(2006.01)I 主分类号 G01R25/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种相同周期信号相位差的测量方法,其特征在于包括128个IODELAY专用可编程输入输出延迟单元,128个6位计数器,1个D触发器,两路相同周期信号:第一路周期信号CLK1,第二路周期信号CLK2;所述的128个IODELAY作为CLK1的延迟器件,每个能够实现0 63个抽头延迟;所述128个6位计数器存储相关IODELAY的抽头延迟值,并通过逻辑控制电路计算,能够得到相同周期信号的相位差;所述D触发器用于检测CLK1与CLK2的边沿重合;所述两个相位差为ΔT的同周期信号CLK1与CLK2输入测量系统,CLK1经过IODELAY的逐级延迟,送入D触发器的数据端,CLK2经过全局时钟网络直接输入D触发器的CLK端和计数器的CLK端,当D触发器检测到CLK1与CLK2相重合时,输出值Q触发逻辑控制电路,并控制计数器记录下延迟的级数N和目前延迟的抽头数M,那么同周期信号相位差ΔT=(N 1)×63×78+M×78。
地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号