发明名称 一种金标试条的检测暗室及其应用方法
摘要 本发明提供了一种金标试条的检测暗室及其应用方法,其包括由遮光板所制成的封闭的遮光盒、发光二极管、光电二极管,遮光盒的一侧壁上开有用于插入试条的侧壁开口,遮光盒内有多个与遮光盒开有侧壁开口的侧壁平行设置的且大小相同的遮光隔板,遮光隔板将遮光盒内部分隔成相互独立的隔间,遮光隔板均开有遮光隔板开口,且遮光隔板开口的位置与侧壁开口的位置相对应,以使试条能水平插入遮光盒,发光二极管和光电二极管安装于遮光盒底部。根据需检测的金标试条上胶体金颗粒的粒径分布确定其吸收光谱范围,进而选择工作在该光谱范围的发光二极管和光电二极管。使用该检测暗室可以准确检测点在金标试条上的抗原浓度,检测灵敏度高,结果客观准确,使用灵活。
申请公布号 CN101915839A 申请公布日期 2010.12.15
申请号 CN201010252356.6 申请日期 2010.08.13
申请人 中南大学 发明人 陈真诚;朱健铭;方成
分类号 G01N33/574(2006.01)I;G01N33/52(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I 主分类号 G01N33/574(2006.01)I
代理机构 长沙市融智专利事务所 43114 代理人 颜勇
主权项 一种金标试条的检测暗室,其特征在于,包括由遮光板所制成的封闭的遮光盒、发光二极管、光电二极管,所述的遮光盒的一侧壁上开有用于插入试条的侧壁开口,所述的遮光盒内有多个与遮光盒开有侧壁开口的侧壁平行设置的且大小相同的遮光隔板,所述的遮光隔板将遮光盒内部分隔成相互独立的隔间,所述的遮光隔板均开有遮光隔板开口,且遮光隔板开口的位置与侧壁开口的位置相对应,以使试条能水平插入遮光盒,所述的发光二极管和光电二极管在遮光盒内部的各个隔间内各安装有一个。
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