发明名称 SYSTEME D'IMAGERIE A MICROLENTILLES ET DISPOSITIF ASSOCIE POUR LA DETECTION D'UN ECHANTILLON.
摘要 L'invention concerne un système d'imagerie et un dispositif associé pour la détection d'un échantillon (4). Le système d'imagerie comprend une matrice (24) de photocapteurs (26), une première lamelle (28) disposée en regard de la matrice (24) de photocapteurs définissant une face (28A) de support de l'échantillon, et un ensemble (30) d'éléments optiques, disposé entre la matrice (24) de photocapteurs et la première lamelle (28). L'ensemble (30) d'éléments optiques comporte une matrice (32) de microlentilles (34). L'ensemble (30) d'éléments optiques comprend un milieu optique (36) disposé entre la matrice (32) de microlentilles et la première lamelle (28), l'indice de réfraction du milieu optique (36) étant sensiblement compris entre 1 et l'indice de réfraction des microlentilles (34). La distance mesurée selon l'axe optique (Z) des photocapteurs (26) entre la face de support de l'échantillon (28A) et le sommet des microlentilles (34) est sensiblement comprise entre 0 et 1500 µm.
申请公布号 FR2946157(A1) 申请公布日期 2010.12.03
申请号 FR20090053631 申请日期 2009.06.02
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE 发明人 HAGUET VINCENT;GABRIEL MARION;CHATELAIN FRANCOIS;PICOLLETD'HAHAN NATHALIE
分类号 G02B27/02;G02B21/34;H04N101/00 主分类号 G02B27/02
代理机构 代理人
主权项
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