| 发明名称 |
Detecting a Fault State of a Semiconductor Arrangement |
| 摘要 |
Disclosed is a method for detecting a mechanical fault state of a semiconductor arrangement, using a temperature profile.
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| 申请公布号 |
US2010301332(A1) |
申请公布日期 |
2010.12.02 |
| 申请号 |
US20090474959 |
申请日期 |
2009.05.29 |
| 申请人 |
DIBRA DONALD;BARRENSCHEEN JENS |
发明人 |
DIBRA DONALD;BARRENSCHEEN JENS |
| 分类号 |
H01L23/58 |
主分类号 |
H01L23/58 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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